通用性强、重复性高的一体化解决方案

• 不同于传统方案，无需微波暗室或吸波材料
• 轻量化设计，便于移动与安装
• 1μm精度天线定位设计，确保测量精准可靠

      自由空间法是微波材料评估不可或缺的测试手段，可灵活应对介电常数/磁导率测量、斜入射反射测量等广泛应用场景。我们的方案具有革命性突破——无需微波暗室与吸波材料即可实现精准评估。同时在保证测量精度的前提下，大幅简化了机械结构，操作更简便。搭配EM labs专用FS-MA材料测量套件，即可实现高效、可靠的材料性能测量。

FS-E — E波段（60-90GHz）专用型号

      传承FS-330全部性能优势，专为E波段优化的紧凑型专用型号！
      E波段测量——自由空间测试领域的高需求方案
      在EM labs，我们观察到自由空间测试系统中E波段测量的需求尤为旺盛。该频段覆盖车载雷达核心工作频段，推动了对车载材料介电特性以及透射、反射、吸收特性进行精准测试的市场需求。
      为响应市场对E波段专用系统的需求，我们专为E波段应用定制开发了专用机械结构设计，实现了重量不足6kg的紧凑轻量化解决方案。

待测样品尺寸

推荐的待测样品长宽尺寸（单位：mm）
     使用推荐尺寸的样品更便于在样品夹具中安装固定，并有助于确保测量精度。
     样品尺寸无严格上限。对于无法放入标准夹具的大尺寸或异形样品，可使用定制夹具与夹片妥善固定材料。
     这正是自由空间法相比谐振法的核心优势之一 ——支持超大尺寸、不规则形状样品的直接测量，无需将样品切割成特定尺寸，特别适合成品板材、大型组件的测试。

推荐的待测样品厚度
     介电常数测量的最佳样品厚度为半波长；磁导率测量的最佳厚度为四分之一波长。
     样品越厚，样品内部多次反射导致的误差越显著，这一现象在磁导率测量中尤为明显。（两种情况均需考虑样品内部的波长缩短效应）
     *波长缩短系数 = 1 / √(ε' × μ') （ε'：相对介电常数，μ'：相对磁导率）

测试系统的典型配置

产品型号

夹具主体

适配器

可选选件

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 自由空间法测试夹具用户手册