产品概述

介电常数、磁导率及电导率是表征材料电磁特性的核心参数，其在微波和毫米波频段的精准测量，是推动电磁领域技术创新、保障产品性能可靠性的关键前提，更是衔接材料研发、产品设计与实际应用的重要桥梁。微波和毫米波频段凭借带宽宽、频率高、方向性强等独特优势，已广泛渗透到通信、航空航天、国防军工、医疗电子、新能源等多个战略领域，而材料的电磁参数直接决定了各类微波毫米波器件、系统的性能上限与运行稳定性，因此，开展该频段下材料电磁参数的精准测量，具有不可替代的理论价值与工程实践意义。

在实际应用场景中，精准的电磁参数测量是各领域技术落地的基础支撑：在通信领域，5G/6G基站、卫星通信、微波传输设备所用的介质基板、天线材料，其介电常数与损耗的精准把控，直接影响信号传输效率、抗干扰能力及设备小型化水平；在航空航天与国防领域，雷达罩、隐身材料、制导系统组件的磁导率、电导率测量，是保障雷达探测精度、隐身性能与武器系统可靠性的核心环节；在医疗电子领域，微波诊断设备、毫米波治疗仪器所用生物组织模拟材料、医用介质材料，其电磁参数的精准表征的是实现诊疗精准度提升的重要前提；在新能源与电子制造领域，微波加热设备、毫米波传感器的核心材料，其电磁参数的测量的是优化设备能效、提升产品竞争力的关键手段。

微波和毫米波频段的介电常数、磁导率及电导率测量，需根据具体应用场景选择合适的方法。EM labs公司基于以下所列方法，研发、生产并销售测量夹具及系统，深圳市涛鑫电子科技有限公司作为EM labs公司在中国区域的代理商，全权负责EM labs公司产品的销售服务、售后服务等相关事宜。

主要特性

根据不同的待测参数以及测试方法，EM labs公司的夹具分为几类：

介电常数和磁导率测试 --> 传输线和自由空间法 测试夹具：

传输线和自由空间法测试用于获取 S 参数，并可通过该参数计算出介电常数和磁导率。该方法非常适用于测量损耗相对较高的材料（通常损耗角正切 tanδ＞0.01）。由于其能提供某一频段内的连续数据，因此可有效评估材料的频率依赖性特征。

除介电常数和磁导率外，该方法还可用于评估材料的透射、反射及吸收特性。借助自由空间测试装置，还可进行吸波材料斜入射反射特性等相关测量。传输线和自由空间法非常适合用于评估材料的透射性能。

Products	Frequencies [GHz]	Material shape
Free-Space	18~330	Board, Liquid
Sample Holder (APC7)	0.5~18	Donut-shape, Powder
Sample Holder (Wave guide)	8,2~40	Cuboid

介电常数和磁导率测试 --> 谐振腔法 测试夹具：

谐振腔法介电常数测量精度高，尤其适用于评估低损耗材料（通常损耗角正切tanδ＜0.01）。该方法需在谐振频率下进行测量：腔体型谐振腔（TM）和分裂圆柱谐振腔（SCR）每个器件仅能在单一频率下进行测量；与之相比，法布里-珀罗谐振腔（Fabry-Perot）可产生间隔为2.5 GHz的谐振，单个器件即可实现多频率测量，进而能够评估材料的频率特性。

备注：谐振腔法不适用于测量磁导率、透射特性、反射特性及吸收特性。

Products	Frequencies [GHz]	Material shape
Cavity resonator	1, 2, 2.45, 3, 5, 5.8, 10	Rod-shaped, Strip-shaped film, Powder, Liquid
Split cylinder resonator	10, 20, 24, 28, 35, 40, 50, 60, 80	Film, Multilayer, Liquid
Fabry-Perot resonator	25~330 *1 point per 2.5GHz step	Film, Multilayer, Liquid

电导率 测试夹具：

通过应用并优化原本用于介电常数测量的分裂圆柱谐振腔和法布里-珀罗谐振腔技术，我们已实现对铜箔电导率的评估。

Products	Frequencies [GHz]	Material shape
Split-cylinder resonator (conductivity)	10, 20, 28, 40	Copper foil, Metal plate
Fabry-Perot resonator (conductivity)	23~170 *1 point per 2.5GHz step	Copper foil, Metal plate, Copper foil with resin